EMI測試(shi)
EM5030 是一款主(zhǔ)要用于查找(zhao)幹擾源，判定(ding)幹擾産生原(yuan)因的高性價(jia)比近場探頭(tóu)。可用來檢測(cè)器件表面的(de)磁🧑🏾🤝🧑🏼場方🥰向以(yi)🆚及強⭐度；檢測(ce)磁場耦合的(de)通道，從而調(diao)整連接器位(wei)置；檢測模塊(kuai)附近的🐇磁場(chang)環境。爲了降(jiàng)低幹擾，尋找(zhǎo)到真正的幹(gàn)擾源或🎯者是(shi)其傳播的途(tú)徑🔴是非常有(yǒu)必要的，通過(guo)近✍️場探頭測(ce)量‼️可以很方(fāng)便地實現定(dìng)位功能。通過(guo)配合本公司(sī)的EM5020前置放大(da)器可以提高(gāo)系統測試靈(ling)敏度。大大的(de)減少産品的(de)研發周期，公天天吃我奶躁我的在❌线观看㊙️減(jiǎn)少往返實驗(yan)室的時間和(he)金錢，減少不(bú)必要的錯誤(wu)測試。 EM5030近場探(tan)🆚頭就是解決(jué)問題的最好(hao)利器！
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型(xing)号 |
說明(ming) |
特性 |
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磁場近場探(tan)頭，可檢查10cm範(fàn)圍内的磁場(chang)。
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磁場近場探(tàn)頭，可檢查3cm範(fàn)圍内的磁場(chang)。
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磁場近場探(tan)頭，主要用于(yu)線纜電磁洩(xiè)漏測試。
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磁場(chang)近場探頭，可(kě)檢測垂直方(fang)向發射的電(diàn)磁場 。
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